Deltest

Le partenaire de l'électronique industrielle

 

Fiabilité et pérennité
des équipements électroniques industriels
Vous êtes ici : Accueil Tests et mesures Sav 8000+ 

SAV 8000+

SAV 8000+

Le test

digital

fonctionnel



Présentation

Le SAV 8000 + est le nouveau venu de la famille des systèmes 8000, il succède au SAV8000 pour répondre aux nouvelles exigences de l'électronique, il est destiné à tous ceux qui réparent des cartes électroniques digitales et/ou analogiques de faibles puissances en maintenance ou en fabrication de petites et moyennes séries.

Télécharger  la documentation



FONCTIONSSPÉCIFICATIONS
 

Testeur fonctionnel manuel des composants (sur et hors carte) pour toutes les familles numériques type TTL, CMOS, , LVTTL, ECL, DTL, RTL, PECL, LVPECL, mémoires, interfaces, LSI, micro-processeurs, analogiques, ou hybrides, en test fonctionnel (table de vérité), mesure des connexions, des tensions, des niveaux logiques, de la température interne du composant, analyse de signature V/I.

Cette fonction affiche graphiquement tous les chronogrammes des tests digitaux appliqués sur les entrées, ceux relevés sur les sorties ainsi que toutes les différences en mode comparaison logicielle.

Les tables de vérité des composants numériques sont stockées dans une bibliothèque. Il suffit d’appeler le nom du composant à tester, de clipper celui-ci, de lancer la fonction «TEST» et le sav8000+ indiquera si le composant est BON ou DÉFECTUEUX.


 

Générateur graphique de test (avec apprentissage automatique) pour test fonctionnel GO/NO GO et comparaison automatique. Permet de tester tout type de composants numériques par stimulation des entrées et auto apprentissage des sorties.


 

Grâce aux séquences de test, l’ensemble des instruments, leurs configurations et les résultats de test sont sauvegardés, permettant la vérification globale d’une carte par comparaison avec un étalon.





 
  • 64 broches d’E/S extensibles à 2048
  • Nombre de gardes (sorties : 8 par module

  • tension de sortie : +/-10 volts

  • courant de sortie 600mA

  • Compatibilité : Selon norme DEF 00-53 (standard décence)

  • slew rate : > 100 V/µs

  • tension d’entrée : +/- 20 V

  • Résolution d'entrée : 10mV

  • impédance d’entrée : 10 kΩ

  • états : Programmables

  • Terminaison des canaux : programmables, trois états, pull up, pull down, bi-directionnel

  • Nombre de vecteurs de test :

    illimité

  • Mode de test :

    unique, cyclique, cyclique BON, cyclique DEF

  • Types de test :

  • fonctionnel (table de vérité)

  • connexions : court-circuit au 0 V ou au Vcc, circuit ouvert ou flottant, lien entre broches, charge au 0 V ou au Vcc, signal, etc.

  • tensions : détection des états logiques avec seuils programmables

  • thermique : indication liée à la température interne au CI

  • V/I :

  • gamme de tension : ajustable entre -10 V à +10 V

  • courant maximum : 1 mA

  • affichage V/I : par groupe de 8

  • fonction zoom

  • superposition des courbes V/I et calcul du recouvrement en mode comparaison

  • Librairies :

  • Toutes les familles logiques, TTL, CMOS, LVTTL, ECL, DTL, LSI, RTL, PECL, LVPECL, Memory, Microprocessor

  • Type de boitiers : DIL, SOIC, PLCC, QFP


DELTEST - SARL - ZI Toul Europe Secteur B, 565 Rue Marie Marvingt -F54200 TOUL - Tél.: (+33) 3.83.43.85.75 - Fax.: (+33) 9.70.62.74.75
Design by Neftis
Powered By Flexit