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SAV 8000

SAV 8000

Le test digital

fonctionnel



Présentation

Le SAV 8000 est destiné à tous ceux qui réparent des cartes électroniques digitales et/ou analogiques de faibles puissances en maintenance ou en fabrication de petites séries.
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FONCTIONSSPÉCIFICATIONS
Testeur fonctionnel manuel des composants (sur et hors carte) de type TTL, CMOS, mémoires, interfaces, LSI, micro-processeurs, analogiques, ou hybrides, en test fonctionnel (table de vérité), mesure des connexions, des tensions, des niveaux logiques, de la température interne du composant de son analyse de signature V/I.

Cette fonction affiche graphiquement tous les chronogrammes des tests digitaux appliqués sur les entrées, ceux relevés sur les sorties ainsi que toutes les différences en mode comparaison logicielle.

Les tables de vérité des composants numériques sont stockées dans une bibliothèque (près de 6 000 composants). Il suffit d’appeler le nom du composant à tester, de clipper celui-ci, de lancer la fonction «TEST» et le SAV 8000 indiquera si le composant est BON ou DÉFECTUEUX.

Identificateur (sur et hors carte) des composants digitaux codés ou effacés. Cette fonction indique la référence, la fonction et les équivalents du composant sous test.

Détecteur et localisateur très précis des courts-circuits et coupures (résolution 1 à 3 mm). Fonctions recherche de connexions (avec indication sonore) et ohmmètre.

Générateur graphique de test (avec apprentissage automatique) pour test fonctionnel GO/NOGO et comparaison automatique. Permet de tester tout type de composants numériques par stimulation des entrées et auto apprentissage des sorties.

Testeur et vérificateur fonctionnel d’Eprom permettant la lecture, l’affichage et la comparaison de tout le programme des Eproms jusqu’à 2 Mbits avec calcul du checksum et indication de l’adresse et du contenu erronés.

Fonction double SAV 8000 pour permettre en mode test fonctionnel manuel, la comparaison physique entre deux composants, deux cartes ou deux sous ensembles, nécessite 2 SAV 8000.

Grâce aux séquences de test, l’ensemble des instruments, leurs configurations et les résultats de test sont sauvegardés, permettant la vérification globale d’une carte par comparaison avec un étalon. 
64 broches d’E/S extensibles à 256 par module de 64 :
  • tension de sortie : compatible TTL/CMOS
  • courant de sortie typique : (dépend du composant sous test)
  • H ® B : 80 mA sous 0,6 V
  • B ® H : 200 mA sous 2 V
  • Maximum : 400 mA
  • slew rate : > 100 V/µs
  • tension d’entrée : 10 V
  • impédance d’entrée : 10 kΩ
  • états : BAS, HAUT, HAUTE IMPÉDANCE
  • protection contre les surtensions :. -0,5 V et V > +5,5 V
Nombre de gardes : 4 ou 8

Nombre de vecteurs de test : illimité

Mode de test : unique, cyclique, cyclique BON, cyclique DEF

Niveaux des seuils ajustables :
  • BAS : TTL/CMOS 0,1 V à 1,5 V
  • COMMUTATION : TTL 1 V à 2,3 V, CMOS 1 V à 3 V
  • HAUT : TTL/CMOS 1,9 V à 4,9 V
Types de test :
  • fonctionnel (table de vérité)
  • connexions: court-circuit au 0 V ou au Vcc, circuit ouvert ou flottant, lien entre broches, charge au 0 V ou au Vcc, signal, etc.
  • tensions : gamme 10 V (résolution 10 mV)
  • détection des niveaux des seuils : H, B, MH et MB
  • thermique : indication liée à la température interne au CI
  • V/I : nombre de canaux de 1 à 256 maxi
  • gamme de tension : ajustable entre -10 V à +10 V
  • courant maximum : 1 mA
  • affichage V/I : par groupe de 8
  • fonction zoom
  • superposition des courbes V/I et calcul du recouvrement en mode comparaison
1 alimentation :
  • 5V / 5A
  • protection contre les surtensions : au-delà de 7 V
  • protection contre les courts-circuits : Imax = 7 A
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